原子力显微镜
原子力显微镜（AFM）是一种显微镜。原子力显微镜提供原子在表面或在表面的图片。与扫描电子显微镜（SEM）一样，原子力显微镜的目的是在原子水平上观察物体。事实上，原子力显微镜可以用来观察单个原子。它通常用于纳米技术。
AFM可以做一些SEM做不到的事情。AFM可以提供比SEM更高的分辨率。此外，AFM不需要在真空中操作。事实上，原子力显微镜可以在环境空气或水中工作，因此它可以用来观察生物样品的表面，如活细胞。
AFM的工作原理是采用一根连接到悬臂梁上的超细针。针尖在被成像材料的脊和谷上运行，"感觉"表面。当针尖因表面而上下移动时，悬臂会发生偏转。在一个基本配置中，激光以斜角照射在悬臂上，通过简单地改变激光束的入射角，就可以直接测量悬臂的偏转。通过这种方式，可以创建一个图像，揭示被机器成像的分子的配置。
AFM有许多不同的操作模式。一种是"接触模式"，在这种模式下，只需简单地将针尖在表面上移动，就可以测量悬臂的变形。另一种模式被称为"敲击模式"，因为在移动过程中，针尖会在表面上敲击。通过控制针尖被敲击的力度，AFM可以在针头感觉到脊的时候远离表面，这样它在移动过程中就不会撞到表面。这种模式对生物样品也很有用，因为它不太可能损坏软表面。这些是最常用的基本模式。不过也有不同的名称和方法，如"间歇性接触模式"、"非接触模式"、"动态"和"静态"模式等等，但这些通常都是上述敲击和接触模式的变化。
问题和答案
问：什么是原子力显微镜（AFM）？答：原子力显微镜（AFM）是一种显微镜，可提供表面或内部原子的图片。它可以用来观察单个原子，通常用于纳米技术。
问：AFM是如何工作的？
答：AFM的工作原理是采用一根附着在悬臂梁上的超细针。针尖在被成像的材料的脊和谷上运行，"感觉 "到材料的表面。当针尖因表面而上下移动时，悬臂会发生偏移。在一个基本配置中，激光以一个斜角照射在悬臂上，通过改变激光束的入射角，可以直接测量悬臂上的偏转。这就形成了机器对分子进行成像的图像显示配置。
问：与扫描电子显微镜（SEM）相比，原子力显微镜有哪些优势？
答：AFMs比SEMs具有更高的分辨率，而且不需要像SEMs那样在真空中操作--它们可以在环境空气或水中操作，使它们可以用于生物样品，如活细胞而不损坏它们。
问：AFMs有哪些操作模式？
答：AFM常用的操作模式包括：接触模式，即针尖在表面上移动，测量悬臂的偏移；攻丝模式，即针尖在表面上移动时被攻丝；间歇性接触模式；非接触模式；动态模式；静态模式等--这些通常是上述攻丝和接触模式的变化。
问：攻丝模式与接触模式有什么不同？
答：攻丝模式与接触模式不同，因为在使用攻丝模式时，针尖会在沿途拍打表面，而不是只在表面上移动--这样，当针感觉到脊柱时，它就会远离表面，这样，它在移动时就不会撞到表面，这对生物样品等软表面很有用，因为这种方式不太可能损害它们。
