质谱仪通常以两种方式之一使用。全扫描或选择性离子监测(SIM)。典型的气相色谱-质谱仪可以单独使用,也可以同时使用两种方式。
全面扫描MS
当在全扫描模式下收集数据时,选择一个目标范围的质量碎片,并放入仪器的方法。一个典型的监测质量碎片的广泛范围的例子是m/z 50到m/z 400。确定使用什么范围主要是由一个人期望在样品中,同时意识到溶剂和其他可能的干扰设置。如果质谱仪寻找的质量碎片的m/z非常低,它可能会检测到空气或其他可能的干扰因素。使用大扫描范围会降低仪器的灵敏度。机器每秒进行的扫描次数会减少,因为每次扫描需要更多的时间来检测更多的质量碎片。
全扫描对确定样品中的未知化合物很有用。在确认或解析样品中的化合物时,它比SIM提供更多的信息。大多数仪器都是由计算机控制的,计算机操作一个称为"仪器方法"的计算机程序。仪器方法控制GC中的温度、MS扫描速率和被检测的片段大小范围。当化学家在开发仪器方法时,化学家将测试溶液以全扫描模式送入GS-MS。这样检查GC保留时间和质量片段指纹,然后再转入SIM仪器方法。专用的GC-MS仪器,如爆炸物检测仪,在出厂时就已经预装了仪器方法。
部分离子监测
在选择离子监测(SIM)中,仪器方法侧重于某些离子碎片。质谱仪只检测这些质量碎片。SIM的优点是检测限较低,因为仪器在每次扫描时只观察少量的碎片(如三个碎片)。每秒钟可以进行更多的扫描。由于只监测少数感兴趣的质量碎片,因此基质干扰通常较低。为了提高正确读取阳性结果的机会,各种质量碎片的离子比与已知的参考标准相当。
电离类型
当分子穿过色谱柱,通过传输线,进入质谱仪后,它们被各种方法电离。通常情况下,在任何给定的时间内只使用一种电离方法。一旦样品被破碎,它将被检测,通常由电子乘法器二极管检测。二极管将电离的质量碎片视为电信号,然后进行检测。
化学家在选择全扫描或SIM监测的同时,还要单独选择一种电离技术。
电离子化
最常见的电离类型是电子电离(EI)。分子进入MS(源是四极子或离子阱MS中的离子阱本身),在那里它们被从灯丝中发射的自由电子击中。这就像一个标准的白炽灯泡中的灯丝。电子击中分子,使分子以一种可以重复的特征方式破碎。这种"硬电离"技术的结果是产生更多的低质量电荷比(m/z)的碎片。EI的质量接近原始分子质量的碎片很少,如果有的话。化学家认为硬电离是将电子射入样品分子中。相比之下,"软电离"是通过用引入的气体撞击样品分子,在样品分子上放置电荷。分子碎片模式取决于施加在系统上的电子能量,通常是70 eV(电子伏特)。70 eV的使用有助于将测试样品产生的光谱与已知的库谱进行比较。库谱可以来自制造商提供的软件或美国国家标准研究所(NIST-USA)开发的软件)。该软件使用匹配算法(如基于概率的匹配或点积匹配)搜索库谱。许多方法标准化机构现在控制这些算法和方法,以保证其客观性。
化学电离
在化学电离(CI)中,试剂气体,通常是甲烷或氨被放入质谱仪。有两种类型的CI:正CI或负CI。无论哪种方式,试剂气体都会与电子和被分析物相互作用,并引起感兴趣的分子的"软"电离。与EI的硬电离相比,软电离对分子的破碎程度更低。与EI相比,化学家更喜欢CI。这是因为CI至少产生一个质量片段,其重量几乎与感兴趣的分析物的分子量相同。
正化学电离
在正化学电离(PCI)中,试剂气体与目标分子相互作用,最常见的是质子交换。这就产生了数量相对较多的离子种类。
负化学电离
在负化学电离(NCI)中,试剂气体降低了自由电子对目标分析物的影响。这种减少的能量通常会使碎片的供应量很大。碎片不会进一步分解)。
口译
仪器分析的主要目标是测量物质的数量。这是通过比较生成的质谱中原子质量的相对浓度来实现的。可以进行两种分析,即比较分析和原始分析。比较分析主要是将给定的光谱与光谱库进行比较,看其特征是否存在于光谱库中的一些已知样品。这最好由计算机来完成,因为由于尺度的变化,会发生许多视觉上的失真。计算机还可以将更多的数据(如气相色谱仪确定的保留时间)关联起来,更准确地将某些数据联系起来。
另一种分析方法是测量各峰之间的关系。在这种方法中,最高峰被设定为100%。其他峰的赋值等于峰高与最高峰高之比。所有高于3%的值都被赋予。未知化合物的总质量通常由母峰表示。这个母峰的值可以用来配合包含各种元素的化学式,这些元素被认为是在化合物中。对于有许多同位素的元素,光谱中的同位素模式是独一无二的。所以,它也可以用来识别存在的各种元素。这告诉了未知分子的整体化学式。因为分子的结构和键的断裂方式很有特点,所以可以从峰质量的差异来鉴别。识别的分子结构必须与GC-MS记录的特征一致。通常情况下,这种识别是由仪器附带的计算机程序自动完成的。这些程序将光谱与已知的化合物库进行匹配,这些化合物具有相同的元素清单,可能存在于样品中。
"全谱"分析考虑到了一个光谱内的所有"峰",但选择性离子监测(SIM)只监测与特定物质相关的选定峰。但是,选择性离子监测(SIM)只监测与特定物质相关的选定峰。化学家假设在给定的保留时间内,一组离子是某种化合物的特征。SIM是一种快速有效的分析方法。当分析人员有先前的样品信息或只寻找少数特定物质时,SIM效果最好。当收集到的某一气相色谱峰中离子的信息量减少时,分析的灵敏度就会提高。所以,SIM分析可以检测和测量较少数量的化合物。但对该化合物身份的确定程度会降低。
气相色谱-串联质谱
当加入第二阶段的质量破碎时,例如使用四极杆仪器中的第二个四极杆,它被称为串联MS(MS/MS)。MS/MS善于测量样品中低水平的目标化合物,并有不感兴趣的背景化合物矩阵。
第一个四极子(Q1)与一个碰撞池(q2)和另一个四极子(Q3)相连。这两个四极杆可以在扫描或静态模式下使用,这取决于使用的MS/MS分析类型。分析类型包括产物离子扫描、前体离子扫描、选择反应监测(SRM)和中性损失扫描。例如当Q1处于静态模式(像SIM一样只看一个质量),Q3处于扫描模式时,可以得到一个所谓的产物离子谱(也叫"子谱")。从这个光谱中,人们可以选择一个突出的产物离子,它可以是所选前体离子的产物离子。这对离子被称为"过渡",构成SRM的基础。SRM具有高度的特异性,几乎完全消除了基质背景。